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產(chǎn)品詳情
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NSTAR-200近紅外光譜透反射性能測量系統(tǒng)
集透射和反射測量于一體，波段覆蓋780-1600nm NSTAR-200近紅外光譜透反射測量系統(tǒng)集反射和透射測量功能于一體，用于測量材料的光譜反射率/光譜透過率，測量波段范圍覆蓋780-1600nm。系統(tǒng)應(yīng)用遠(yuǎn)方公司多項(xiàng)專利技術(shù)，可快速精確測量近紅外寬波段范圍內(nèi)光譜透反射率，系統(tǒng)測量靈敏度高，穩(wěn)定性、復(fù)現(xiàn)性好，雜散光小，可滿足較低透反射率的深色樣品測量，主要用于各類材料研發(fā)實(shí)驗(yàn)室。主要特點(diǎn)： ● 兼容反射和透射測量：反射測量d/8，SCI和SCE可選；透射測量為d/0幾何； ● 附NPL溯源標(biāo)準(zhǔn)色板，溯源性好； ● 穩(wěn)定性好，測量精度高，滿足較低透反射率的深色樣品測量。
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